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測(cè)鍍層X熒光光譜儀

型號(hào)：TRF5000

產(chǎn)品時(shí)間：2024-08-30

簡(jiǎn)要描述：

測(cè)鍍層X熒光光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域：鍍層成分分析鍍層厚度分析鍍層環(huán)保檢測(cè)

產(chǎn)品目錄

Product catalog

詳細(xì)介紹

  測(cè)鍍層X熒光光譜儀 規(guī)格：

1.元素分析范圍:硫-鈾（S-U）

2.元素含量分析范圍：1PPM~99.99%

3.zui低檢出限：1PPM

4.鍍層檢驗(yàn)厚度：0.005-50μm（視材料類型而有所不同）

5.樣品腔尺寸：150*120*50（MM)

 

測(cè)鍍層X熒光光譜儀 應(yīng)用領(lǐng)域：

 

鍍層成分分析

鍍層厚度分析

鍍層環(huán)保檢測(cè)  

 

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